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TWS耳机盖磁吸寿命试验机
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广东东莞
东莞市迈科仪器设备有限公司
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TWS耳机盖磁吸寿命试验机
 
型号:MK-014A

设备简介:
  TWS耳机盖磁吸寿命试验机用于耳机在充电盒中取放寿命测试。耳机取放寿命试验机采用触摸屏控制且设置,在一定高度、次数、速度模拟耳机取放寿命测试。


技术参数:
   1、试验工位:两组(同时测试)
   2、拿放高度:0-50mm(触摸屏可设且显示)
   3、测试速度:5-60次/分(触摸屏可设且显示)
   4、停留时间:0-2S(触摸屏可设且显示)
   5、试验次数:0-99999999次(触摸屏可设,断电记忆功能)
   6、控制系统:触摸屏+PLC
   7、驱动系统:步进电机+四组真空吸盘气缸
   8、测试方式:反复取放
   9、固定治具:两组可调式固定治具
  10、机台尺寸:600×400×500mm
  11、工作电源:AC220V、50Hz


设备特点:
  1、箱体采用静电烤漆处理,台面采用纯铝板氧化处理,整机设计合理,结构紧固,运行安全、稳定、准确;
  2、高度、次数、速度等参数,触摸屏设置且显示,操作方便、快捷;
  3、步进电机驱动滚珠丝杆以及气动元件控制真空吸盘,使用寿命长、耐久性强。
   
品牌:迈科
型号:MK-014A
加工定制:
类型:弹簧
外形尺寸:600×400×500mm mm
重量:45 kg
适用范围:TWS耳机盖磁吸测试
装箱数:1